【48812】北京理工大学网络教育期末考试操控与测验 2答案(1)

时间: 2024-08-06 23:25:17 |   作者: 大事纪要

  A.PN结光电二极管电路 B.PNP型晶体管集成电路 C.MOS型晶体管开关集成电路 D.NPN型晶体管集成电路

  A.具有反应元件 B.输出不随输入改动 C.操控精度低 D.有稳定性的问题

  A.信号是缓变的 B.信号是快变的 C.搅扰的耦合通道 D.信号是沟通的

  A.体系传递函数的极点均在S平面左半平面 B.体系开环传递函数的一切零点和极点均在S平面左半平面 C.体系闭环传递函数的一切零点和极点均在S平面右半平面 D.体系开环传递函数的一切零点和极点均在S平面右半平面

  A.无阻尼天然频率增大,阻尼比增大 B.无阻尼天然频率增大,阻尼比减小 C.无阻尼天然频率减小,阻尼比减小 D.无阻尼天然频率减小,阻尼比增大

  3. 若电容式传感器在真空中,其掩盖板面为一圆形,r=20cm,极板距离d=2mm,其电容量错的有( )。

  4. 设ωc为幅值穿越(接壤)频率,φ(ωc)为开环频率特性幅值为1时的相位角,则相位裕度计算错误的表达式为( )

  A.怎么规划机器 B.怎么规划机器零部件 C.怎么操作或驾驭机器 D.研讨体系及其输入、输出三者之间的动态联系

  6. 一体系的开环传递函数为,则体系的开环增益和型次顺次有错的为( )。

  A.开环体系的输出对体系无操控效果,闭环体系的输出对体系有操控效果 B.开环体系的输入对体系无操控效果,闭环体系的输入对体系有操控效果 C.开环体系纷歧定有反应回路,闭环体系有反应回路 D.开环体系纷歧定有反应回路,闭环体系也纷歧定有反应回路

  1. 体系类型、开环增益对体系稳态差错的影响为体系型次越低,开环增益K越大,体系稳态差错越小。()

  2. 平衡电桥终究的输出为零,因而测量差错取决于可调电位器的精度,而与电桥的电源电压无关。( )

  3. 模—数转化进程包含采样、量化和编码,其实质是对时刻和幅值的离散化。( )

  4. 二阶欠阻尼体系的上升时刻界说为:单位阶跃呼应到达稳态值所需的时刻。()

  5. 体系类型、开环增益对体系稳态差错的影响为体系型次越低,开环增益K越小,体系稳态差错越小。()

  7. 二阶欠阻尼体系的上升时刻界说为:单位阶跃呼应从零到第一次上升到稳态值时所需的时刻。()

  10. 所谓最小相位体系是指体系开环传递函数的一切零点和极点均在S平面左半平面。()

  答案: 霍尔效bai应是指当固体导体放置在一个磁场内,且有du电流zhi通过期,导体内的电荷载子遭到洛dao伦兹力而倾向一边,继而会产生电压(霍尔电压)的现象。其物理实质是电磁效应的一种。

  答案: 是这样的 因为任何一个操控办理体系的操控框图都可通过等效改换 化成单位负反应的操控框图

  答案: 所谓校对的特色是在搅扰引起差错之前就对他进行近似补偿,以便及时消除搅扰的影响

  半导体应变片最杰出的长处是灵敏度较高,这为它的运用供给了有利条件。别的,因为机械滞后小、横向效应小以及它本身体积小等特色,扩展了半导体应变片的运用范围。

  其最大的缺陷是温度稳定性差、灵敏度离散程度大(因为晶向、杂质等要素的影响)以及在较大应变效果下非线性差错大等,给运用带来必定困难。

  三、电阻丝应变片的优缺陷:长处是价格低,缺陷是精度较差,横向效应系数较大。一般的应变bai片,不管是金属应变片,仍是半导体应du变片,都是根据zhi资料的压阻效dao应——应力使电阻产生改动的现象来作业的。(别的,也有选用压电效应来作业的应变片。)

  5. 请写出超前校对设备的传递函数,假如将它用于串联校对,能改进体系什么功能?